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芯片天线集成测量方法分析及研究进展 收藏

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  • 授课形式:录播
  • 适用年份:2018/2019年
  • 科       目:专业提升-计量
  • 学       时:2学时
  • 课程简介
  • 课程目录
  • 课程评论

本课程的主题是芯片天线集成测量方法分析及研究进展。MVG为天线EMC,RCS及天线罩等领域测试提供广泛的测量解决方案,包括:近场,远场和紧缩场天线测量技术。本课程主要介绍芯片天线测量方法分析,包括近场和远场。

  • 录播
    芯片天线集成测量方法分析及研究进展(一)

    0时32分13秒

  • 录播
    芯片天线集成测量方法分析及研究进展(二)

    0时21分57秒

讲师介绍

史信荣,工学博士,高级工程师。来自广东省计量科学研究院。

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